DICON EXFO光器件测试仪CT440

CT400将高速电子设备和光干涉测量技术结合起来。四个集成的检测器使您能够同时测量四个通道，单次激光器扫描的动态范围为65 dB。此外，在以任何速度进行扫描时波长精度都可以达到±5 pm，因此不需要在测量速度和精度间进行取舍。CT440集成了一个监测光电探测器，在扫描期间对来自激光光源的任何功率波动进行补偿。可以不考虑激光器扫描速度，在1和250 pm之间选择采样分辨率。除了±5 pm的波长精度外，内置的波长计可减轻对可调谐激光光源（TLS）的要求，从而在不影响测量性能的情况下降低系统成本。CT440在与TLS和PC连接时，可提供执行准确测量所需的各种功能。

• 快速测量变换函数（插损）
• 波长范围：1240-1680 nm（SMF型号）
• PM和PDL选件
• 波长分辨率：1至250 pm
• 波长精度：±5 pm
• 动态范围：单次扫描时65 dB
• 至多可结合4个可调谐激光器（SMF型号）
• 配备四个内部检测器，可通过同步进行扩展
• 19英寸机架支持1U版本

• 工作温度：15 °C至30 °C（59 °F至86 °F）
• 存储温度：–10 °C至60 °C（14 °F至140 °F）
• 相对湿度:<80 %（非冷凝）
• 电源:AC：100 V至240 V（50 Hz至60 Hz）
• 尺寸（W x H x D）:440 mm x 50 mm x 375 mm
• 重量:3.5 kg至3.9 kg（7.7 lb至8.6 lb）