SENCON漏光测试仪ELTP

Quasar 头的灵敏度是以前的探测器的两倍，比原来的 ELTP 光测试仪好 20 倍。 采用新的内部处理器电子器件、改进的振动抑制、新一代的高性能传感器和新的探测器光学器件。

新的 ELTP 可检测端板上的 1 微米测试孔。由于面板、刻痕或卡盘壁上的撕裂或针孔以及分裂铆钉导致的实际生产泄漏，其检测成功率高于竞争对手的系统。如果剪裁卷曲和复合斑点缺陷大到足以影响末端周围的光密封，则它们也会被检测到。该系统甚至可以检测到一些间接光路。

• 减少浪费、HFI（留待检查）和拒收
• 快速检测生产问题
• 提高客户满意度
• 可验证的 1 微米灵敏度，错误剔除率低于百万分之三
• 触摸屏界面
• 工业0 连接

测试能力：1 微米激光在端板上钻孔测试孔（实际检测取决于生产变量）

运行速度1高达 1000 次/分钟（详细规格请联系 Sencon）

圆端尺寸1  112 至 603 / 44.5 mm 至 153 mm 使用皮带袋转移

其他尺寸和非圆形联系 1 Sencon 讨论其他尺寸和非 - 圆形

ELTP 已成功安装在全球多种类型的饮料端转换压机以及各种食品端压机上。根据客户规格，还为其他尺寸和非圆形形状制作了专用系统。