RIFTEK胶带几何测量自动化系统RF089

光学千分尺用于控制带的几何参数。

操作基于所谓的“影子”原则。千分尺由两部分组成——发射器和接收器。半导体激光器或 LED的辐射由透镜直。将胶带放置在准直光束区域，用 CCD 光电探测器阵列扫描形成的阴影图像。处理器计算出光的位置（大小） 磁带从阴影边界（边界）的位置。

胶带厚度计算为胶带和轴的阴影边界位置之间的差异。轴的阴影边界位置由独立的千分尺控制。

该系统包含一组 6 个光学千分尺用于同时控制胶带宽度和一组 9 微米，其中 6 个用于同时控制胶带厚度和3 个（辅助千分尺） - 用于控制轴表面位置。所有千分尺在交换中心通过RS485接口联网，交换中心还包括整个系统的电源。该系统包含设计用于数据处理、指示测量结果和数据存储的控制器 (PDA)。

该系统旨在控制胶带的几何参数（宽度和厚度）和温度，特别是在制造过程中的打包带。

该系统已应用于批量生产。生产线上安装。

可以针对特定任务更改系统的技术特性。