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THORLABS光束质量分析系统M2MS-AL

产品介绍

这些扩展装置用于将Thorlabs的相机式或扫描狭缝式光束分析仪扩展成全自动的电动M²测量系统。M2MS内有用于400到2700 nm的反射镜,而M2MS-AL内有用于250到600 nm的反射镜。入射端口处的磁性安装座便于根据激光光源更换镀增透膜的透镜(请见下文字框),从而优化系统。

光束质量分析仪和聚焦透镜的位置保持固定。对于M2测量,光程可以通过安装在上一代DDSM100/M位移台上的可移动回射器改变,位移台的行程范围是200 mm,速度为max.500 mm/s。

M²测量系统的侧面有一个集成的USB2.0集线器,包含的端口用于连接光束质量分析仪和TSP01 USB温度和湿度控制器等器件,另外还有一个连接电脑的迷你USB输出接口。系统内的位移台也是通过这个集线器和电脑通信。系统通过Thorlabs Beam软件控制,此软件也能控制我们的光束质量分析仪(请见软件标签),能够确保准确地测量多种光束相关的参数。

M2测量系统的外壳安装在底座四角由0.5 mm深的退刀槽形成的支脚上。它还附带一组RDF1橡胶减振支脚。通过五个M6螺纹孔靠近四角安装四个减振支脚,或使用三个减振支脚的配置。

性能特点

  • 组合BP209扫描狭缝式光束质量分析仪搭建完整的M²测量系统
  • 反射镜用于250 - 600 nm或400 - 2700 nm
  • 安装转接件,用于BC106N相机式和BP209扫描狭缝式光束质量分析仪
  • 附带一个对准激光器

选型指南

技术参数


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