THORLABS光纤端面干涉仪GL16

GL16光纤端面几何形状测量仪器使用非常简单，能够测量单芯和多芯接头的端面几何形状，并对其成像。它采用非接触式白光扫描干涉技术(SWLI)，能够提供高准确度、高重复性和高可靠性的光纤接头测试，尤其适合根据IEC或Telcordia标准进行的合格/不合格测试。系统既可以通过触摸屏进行本地控制，又可以通过基于浏览器的应用程序实施远程操作，易于集成到生产车间。

所有系统组件完全集成在封闭的外壳中。宽带宽570 nm LED光源配合迈克尔逊干涉物镜使用，测量间隔高度变化高达35 μm的相移。压电位移台相对于接头移动干涉物镜，并使用高分辨率相机收集所产生的干涉图案。然后生成接头表面的3D高度图，并利用2.2 µm的横向分辨率和1.1 nm的高度分辨率计算光纤几何形状参数。白光干涉法还能够表征凹陷或突出的光纤，而这一点在使用单色干涉仪时可能会被忽略。

附带的GL16M4 MT型安装夹具有助于实现一次8秒测量12芯每行的插芯中max.72根光纤。换出附带的夹具，GL16还可测量其他光纤类型和接头类型。请根据待测接头类型和光纤数量在下方选择合适的安装组件。

• 3D干涉仪，用于测量端面几何形状
• 非接触式闭环压电白光扫描干涉技术(SWLI)
• 完全符合IEC和Telcordia等行业规范
• 兼容所有主要的接头类型(请看下表)
• NIST可追踪标准，用于放大倍率和偏转位移台的校准
• 集成的触摸屏上提供完整的扫描信息，测量时间≤8 s(典型值)
• 基于浏览器的应用程序，支持远程访问操作
• 导出为.CSV格式的数据，SQL数据库或扫描报告