VG Scienta电子能谱ARPES Lab

角度分辨光电子能谱 (ARPES) 已成为了解材料电子结构的技术。ARPES Lab很大限度地发挥了革命性的 DFS30 半球形高分辨率分析仪及其获得许可的镜头内偏转器和静电三维聚焦调节器的优势。通过集成的低温操纵器和新型的系统软件控制，可以准确测量高分辨率全三维 ARPES 带状结构，而无需移动样品。

DFS30 偏转板和 3D 聚焦调节，可获得准确的 ARPES 结果

明亮的单色器紫外光源，光束光斑小

经过验证的 µARPES、tr-ARPES、自旋测量和 HREELS 解决方案

激光源、样品制备和 LEED 的集成选项

低温 LHe 和封闭循环低温样品操纵器

部署在 CREATE 平台上

更高的 k 空间分辨率和更短的测量时间

通过保持样品角度固定，避免与几何形状相关的矩阵元素效应

用于 DN40CF 闸阀的垫片套件

备用件：环形加热元件

备用件：系统工作台水平脚（绿色）

产地：英国

能量分辨率，DFS30 分析仪：< 1.8 meV（DFS30-8000 型< 1.0 meV）

静电 3D 聚焦调整：是

角度分辨范围：± 15° 全锥体

用于全锥检测的偏转模式：是

能量范围：0.5 - 1500 eV

角度分辨率，DFS30 分析仪：0.1°

磁屏蔽，分析室：< 500 nT（使用双 mu-liner 时 < 100 nT）

分析室基本压力： 10-11 mBar 运行压力

快速氦泵（串联涡轮泵）：是

紫外能量分辨率：1 meV（He I）

电动操纵器轴：x、y、z、极轴、方位轴、倾斜轴（可提供 4 - 6 轴型号）

机械手温度范围：从 < 3.5 K 到 400 K，可并行准备加热级  

用于稳定温度的反向加热：是

超稳定、模块化、高压电子装置：是

软件：MISTRAL 系统控制，PEAK 分析仪控制软件

光学、实验、表面化学分析、分子结构、催化剂、新材料等研究领域