SPDR使用特定的谐振模式。该模式具有取决于谐振器尺寸的特定谐振频率,并且在一定程度上也取决于测量样品的电学性质。因此,每个谐振器被设计用于特定的额定频率,并且实际测量以接近标称频率的频率进行。SPDR的基本线路的标称频率为:1.1 GHz,1.9 GHz,2.45 GHz,5 GHz,10 GHz。在1.1 GHz和15 GHz之间的其他频率的谐振器可以在特殊要求下制造。
测量空谐振器和谐振器的谐振频率和Q因子。提供专用软件用于介电常数和介电损耗角正切测定。可以使用Agilent Technologies配备85071E材料测量软件(选件300)的PNA / ENA系列网络分析仪之一,用户只需将QWED的专用应用程序上传到网络分析仪中,并直接在其显示屏上获得结果。使用不同网络分析仪的用户需要在标准PC计算机或网络分析仪(如果配备Windows操作系统)上安装介质特性计算软件。
薄层电阻测量范围:4kΩ÷10MΩ
产地:波兰
标称频率:1.1 GHz,1.9 GHz,2.45 GHz,5 GHz,10 GHz
表面材质:铝
结果显示:显示屏
薄层电阻测量范围:4kΩ...10MΩ
薄层电阻测量次数:2
薄膜衬底:半绝缘
测量数值:层状介电材料的复介电常数
可定制:是
温度范围:-270℃至110℃
SPDR用于测量包括LTCC衬底在内的层状电介质材料的复介电常数,也用于沉积在低损耗介质衬底上的薄铁电薄膜。此外,SPDR可用于测量各种导电材料(如商用电阻层,薄导电聚合物膜或高电阻率半导体)的表面电阻和电导率。这种测量仅适用于Rs> 5kΩ/平方的大表面电阻采样。样品的小尺寸取决于谐振器的工作频率。SPDR适合在-270℃至110℃的温度下工作。
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