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AURIGA Laser 与电子显微镜组合可以实现高速且精细的材料刻蚀。使用脉冲激光束在最短时间内刻蚀样品材料。借助聚焦离子束精准地对感兴趣的样品区域进行重新加工。在同一系统内充分发挥 FIB-SEM 的成像品质。
您能够在同一系统中创建高分辨纳米级图像,使用 X 射线分析功能检测样品。同时还能够在最短时间内处理非导电材料样品及其复杂的几何结构。只需一步操作便能获得所有需要的信息。
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